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X线头影测量分析在口腔烤瓷美容修复
编辑:上海华美  时间:2008-12-04 咨询专家 进入专家答疑区

发友疑问

  X线头影测量分析在口腔烤瓷美容修复中的应用上海市徐汇区牙病防治所上海200032徐培成刘泓虎朱霖目的:评估X线头影测量分析在中年人上颌前突烤瓷美容修复过程中的作用。方法#前采用X线头影测量分析辅助选出上颌前突的中年人适合进行烤瓷美容修复的人群,对18例中年(女性16例,男性2例,平均年龄45.6岁)上颌前突的患者进行烤瓷美容修复,#后采用x线头影测量分析评价烤瓷修复的疗效。
 

  结果烤瓷美容修复后上中切牙长轴明显舌侧倾斜,上下中切牙构成角度趋于正常,覆颌、覆盖关系基本接近正常;上下唇软组织@HM前点明显后退,侧貌形态显着改善。结论x线头影测量分析为中年人上颌前突烤瓷美容修复的治疗效果提供了评估的参考标准。

口腔正畸

  上颌前突是临床比较常见的错颌畸形。由于上颌前牙显着唇侧倾斜,造成口唇前突,开唇露齿,上下唇软组织形态严重失调,影响颌面正侧貌的美观,甚至给患者带来心理上的不良影响。过去的矫正治疗对象主要为儿童和青少年,随着社会经济条件的改善、人们对生活质量要求的提高、以及正畸和修复的基础研究和技#的进步,要求治疗的成年患者也日益增多。成年人无论从口腔状态、体质及心理上,其治疗条件和目标都不同于生长发育期中的青少年儿童,其治疗的要求、范围和限度也有差别。中年人的牙齿经过几十年的使用,特别是一些牙列不齐患者由于平时缺乏口腔保健意识,就诊时口腔卫生状况较差,常伴有严重的牙体病、牙周病和明显的牙齿移位,给常规的正畸治疗带来很大的困难,有些甚至已经超出了正畸治疗的范围;也有不少患者因职业、社交等各种因素,难以接受需要1~2年疗程的固定矫治技#。对于这类渴望改善上颌前突又不能和或不愿正畸治疗的患者,采用烤瓷美容修复的方法取得了很好的疗效,但一直以来因缺少客观的评估标准而无法对疗效进行评价。本文首创将口腔正畸中X线头影测量分析应用在该类患者的诊疗之中,为烤瓷美容修复的治疗效果提供了比较客观的参考标准。
 

  材料和方法研究对象18例中年患者属于牙性或者轻度骨性错颌Ⅱ~Ⅲ度深覆殆,Ⅲ度深覆盖;其中女性16例,男性2例,平均年龄45。6岁。18例病人口腔状况较差,正畸科医师认为不适宜进行正畸治疗,同时患者也拒绝接受固定矫治。
 

  临床对象操作步骤:
  (1)进行常规口腔检查(包括拍摄口腔全景片及X线头颅侧位定位片),对牙体病、牙周病进行完善的治疗。
  (2)常规取模,一副为记存模,作为治疗前后对比使用:另一副作为工作模,转移至殆架上进行牙齿排列试验,以确定烤瓷美容修复的设计方案。
  (3)具体操作过程,包括根管治疗、牙体制备、取模、灌模,制作暂时修复体、烤瓷牙比色,初戴。
  (4)#后拍摄X线头颅侧位定位片,并取#后记存模。
 

  测量项目测量标志点共14点:
  1、耳点(P);
  2、眶点(0r);
  3、颏前点(po);
  4、颏下点(Me);
  5、下颌角点(Go);
  6、上中切牙点(U1);
  7、下中切牙点(L1);
  8、上唇@HM前点(ULs);
  9、下唇@HM前点(LLs);
  10、上齿槽座点(A);
  11、下齿槽座点(B);
  12、B点在软组织上的对应点(Bs);
  13、Po点在软组织上的对应点(Pos);
  14、上下口唇的接触点(St)。
 

  角度测量共3项:
  ①上中切牙角(U1-FH):上中切牙长轴与眼耳平面相交之后下角。
  ②下中切牙角(L1.Mp)t:下中切牙长轴与下颌平面(Mp)相交之后上角。
  ③上下中切牙角(Ⅱ):上下中切牙长轴的后交角。
 

  X线距测量共8个项目:
  1、水平距离测量:连接A、B两点成一直线。分别测量uLs、LLs、Bs、Pos至AB线的垂直距离。为uLs一-AB、LLsAB、Bs一AB、Pos一AB。
  2、垂直距离测量:连接uI、A两点成一直线,与上腭平面(Palatal plane)相交之点C;连接Ll、B两点成一直线,与下颌平面(Mandibularplane)相交之点D,从St点分别作Ul—A及Ll—B线的垂足,并分别测量垂足至c和D之间的距离,即为St—C和st—D的距离,分别代表上下口唇的长度。
  3、覆颌(OB):上下中切牙点之间的垂直距离。
  4、覆盖(OJ):上切牙切端至下切牙唇面的水平距离。
  5、数据采集及统计学分析由作者在一段时间内连续完成X线片描绘和测量。治疗前后测量数据输人计算机。应用SAS统计学分析软件进行治疗前后配对t检验。
  6、结果治疗前后的角度变化 在统计学上U1一FH和II角度治疗前后均有高度显着性差异,  L-Mp角度治疗前后无明显差异。
  7、治疗前后的线距变化见表2。在统计学上uLs。AB和OJ治疗前后有高度显着的差异,LLs一AB、0B及C一St治疗前后有显着差异,D-st治疗前后无明显差异。
  8、治疗前后X线头颅侧位重叠变化从治疗前后X线头颅侧位定位片描绘重叠图可以清楚地显示,伴随着上中切牙显着的舌侧移位及牙冠的垂直距离的调整,使前牙区的覆殆、覆盖关系显着改善,同时上下唇软组织侧貌也由治疗前显着的前突变成较为美观、协调的外形。同样,从表1、2反映出,上中切牙明显舌倾,U1一FH由治疗前的112.5减少至治疗后94.8使前牙覆盖减少9咖,得到明显改善。

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